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1. Identificação
Tipo de ReferênciaTese ou Dissertação (Thesis)
Sitemtc-m21d.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP3W34T/478BK78
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21d/2022/07.07.13.04
Última Atualização2022:08.22.14.39.33 (UTC) simone
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21d/2022/07.07.13.04.11
Última Atualização dos Metadados2022:08.29.18.59.19 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-18594-TDI/3233
Chave de CitaçãoFlausino:2022:AnQuEf
TítuloAnálise qualitativa dos efeitos da radiação de dose total ionizante em transistores e circuitos integrados de aplicação espacial
Título AlternativoQualitative analysis of the effects of total ionizing dose radiation on transistors and integrated circuits of space application
CursoCSE-ETES-DIPGR-INPE-MCTI-GOV-BR
Ano2022
Data2022-05-10
Data de Acesso04 maio 2024
Tipo da TeseDissertação (Mestrado em Engenharia e Gerenciamento de Sistemas Espaciais)
Tipo SecundárioTDI
Número de Páginas101
Número de Arquivos1
Tamanho3732 KiB
2. Contextualização
AutorFlausino, Josemara Conceição de Mendonça
GrupoCSE-ETES-DIPGR-INPE-MCTI-GOV-BR
BancaSantos, Walter Abrahão dos (presidente)
Manea, Silvio (orientador)
Brito, Alirio Cavalcanti de
Fialho, Marcio Afonso Arimura
Finco, Saulo
Endereço de e-Mailjosemara_sjc@hotmail.com
UniversidadeInstituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
CidadeSão José dos Campos
Histórico (UTC)2022-07-07 13:05:30 :: josemara.flausino@inpe.br -> administrator ::
2022-07-08 18:53:24 :: administrator -> pubtc@inpe.br ::
2022-07-08 18:53:50 :: pubtc@inpe.br -> josemara.flausino@inpe.br ::
2022-07-26 04:39:32 :: josemara.flausino@inpe.br -> simone ::
2022-07-26 17:29:52 :: simone -> josemara.flausino@inpe.br ::
2022-08-02 14:26:54 :: josemara.flausino@inpe.br -> administrator ::
2022-08-22 13:26:01 :: administrator -> pubtc@inpe.br ::
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2022-08-23 19:54:57 :: simone -> administrator :: 2022
2022-08-29 18:59:19 :: administrator -> :: 2022
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Palavras-Chaveconfiabilidade
dose total ionizante
transistores
circuitos integrados
análise qualitativa
reliability
total ionizing dose
transístors
integrated circuits
qualitative analysis
ResumoA todo o momento os satélites em órbita sofrem com o impacto de partículas ionizantes que podem causar danos aos seus sistemas a curto e longo prazo. A tecnologia atual dos dispositivos eletrônicos, tornou-os cada vez mais complexos e/ou altamente integrados o que torna os efeitos da colisão de partículas mais prejudiciais devido a diminuição da área física. Neste contexto para que o Satélite tenha sucesso no seu ciclo de vida é importante melhorar a confiabilidade dos dispositivos para evitar que falhas prejudiquem o sistema e consequentemente a Missão. O presente trabalho busca selecionar uma ferramenta de análise qualitativa, com o objetivo de realizar um estudo qualitativo, dos efeitos da radiação nos modos de falha de transistores e circuitos integrados de uso espacial, e como esses modos de falha impactam no sistema e quais medidas podem ser tomadas para melhorar ou até mitigar os efeitos desta falha no sistema. São apresentados dois estudos de caso para validar o estudo, aplicando a ferramenta de análise qualitativa selecionada (Failure Modes and Effects Analysis - FMEA): O Primeiro deles aplica a metodologia ao transistor 2N2222A, e o segundo ao Circuito Integrado - CI Low Voltage Differential Signaling LVDS desenvolvido no âmbito do projeto de Circuitos Eletrônicos Tolerantes à Radiação (CITAR). Ambos componentes foram irradiados com partículas provenientes de uma fonte de Cobalto 60 para testar seus parâmetros elétricos sob efeito da radiação. ABSTRACT: At all times, satellites in orbit suffer from the impact of ionizing particles that can cause damage to their systems in the short and long term. The current technology of electronic devices has made them increasingly complex and/or highly integrated, which makes the effects of particle collisions more harmful due to the decrease in physical area. In this context, for the Satellite to be successful in its life cycle, it is important to improve the reliability of the devices to prevent failures from harming the system and consequently the Mission. The present work seeks to select a qualitative analysis tool, with the objective of carrying out a qualitative study, of the effects of radiation on the failure modes of transistors and space-use integrated circuits, and how these failure modes impact the system and what measures can be taken to improve or even mitigate the effects of this failure on the system. Two case studies are presented to validate the study, applying the selected qualitative analysis tool (Failure Modes and Effects Analysis - FMEA): The first one applies the methodology to the 2N2222A transistor, and the second to the Integrated Circuit - CI Low Voltage Differential Signaling LVDS developed as part of the Radiation Tolerant Electronic Circuits (CITAR) project. Both components were irradiated with particles from a source of Cobalt 60 to test their electrical parameters under the effect of radiation.
ÁreaETES
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Detentor dos Direitosoriginalauthor yes
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Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Repositório Espelhourlib.net/www/2021/06.04.03.40.25
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3F35BSP
8JMKD3MGPCW/46KTFK8
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/bibdigital/2013/10.14.22.20 1
sid.inpe.br/bibdigital/2022/04.03.17.52 1
Acervo Hospedeirourlib.net/www/2021/06.04.03.40
6. Notas
Campos Vaziosacademicdepartment affiliation archivingpolicy archivist callnumber contenttype copyholder creatorhistory descriptionlevel dissemination doi electronicmailaddress format isbn issn label lineage mark nextedition notes number orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup resumeid schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype url versiontype


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